發(fā)光材料發(fā)光效率，發(fā)光特征等光學(xué)性能測(cè)試

QEMS-光致發(fā)光量子效率測(cè)試系統(tǒng)是對(duì)發(fā)光材料的發(fā)光特性，發(fā)光效率等光學(xué)性能進(jìn)行測(cè)試的系統(tǒng)，可以測(cè)薄膜，液體和粉末。

系統(tǒng)結(jié)構(gòu)

• 標(biāo)準(zhǔn)球?yàn)?英寸Spectraflect?積分球， 球大小可定制

• 配置樣品夾具/比色皿，可測(cè)試薄膜，液體和粉末

• NIST可溯源的標(biāo)準(zhǔn)燈2Pi-1-INT-050, 已知350nm~1100nm下每1nm的絕對(duì)光譜輻射通量

• 光譜儀CDS2600

• 便攜式、波長(zhǎng)可定制的準(zhǔn)直激發(fā)光源

• Light MtrX軟件

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

• 體積小巧：便于靈活使用及運(yùn)輸。

• 流程化操作：設(shè)備無(wú)需頻繁校準(zhǔn)。

• 便攜式、波長(zhǎng)可定制的準(zhǔn)直激發(fā)光源，與積分球的球口匹配，無(wú)需手動(dòng)對(duì)準(zhǔn)。

測(cè)試參數(shù)

• EQE 外部量子效率

• 各項(xiàng)參數(shù)值：發(fā)光效率(lm/W)、絕對(duì)輻射光通量(lm)、光強(qiáng)度(cd)、亮度(cd/m2)、CIE色度圖、IV Curve…；

主要規(guī)格參數(shù)